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J-GLOBAL ID：201702237544747859   整理番号：17A0954501

計算機トモグラフィーおよび破壊解析への利用

Computer-Tomography and its Use in Failure Analysis

著者 (3件)： PANZENBOECK M. (Montanuniversitaet Leoben, Leoben) ,  BORCHERT M. (Materials Center Leoben, Leoben) ,  FREITAG C. (Montanuniversitaet Leoben, Leoben)
資料名： Practical Metallography  (Practical Metallography)
巻： 54  号： 4  ページ： 267-278  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0731A  ISSN： 0032-678X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 計算機トモグラフィー(CT)は1970年代の初めに,医療技術分野で開発された。今では,CTを使用しない非破壊試験は想像もできない。本稿では,電磁弁の破壊および耐食性スクリューの破壊の2つの事例を紹介した。1)CT技術の開発の歴史,2)X線技術,3)事例研究1-電磁弁の破壊:電気的に正常に作動していた電磁弁が損傷して水漏れが発生した。その原因は,弁のシールとシーリングエッジの間にトラップされたプラスチック粒子に起因した。さらに,粒子の起源を探求した,4)事例研究2-耐食性ねじの破壊:取り付け用ねじの応力腐食割れによる道路トンネル照明装置の故障を,CTスキャン法を用いて解析した。

シソーラス用語： 破壊力学 ,  *非破壊検査 ,  *計算機トモグラフィー ,  事例研究 ,  電磁弁 ,  事故 ,  ねじ ,  応力腐食割れ ,  照明器具 ,  調査 ,  破面 ,  破面検査 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： *破壊解析 ,  CTスキャン ,  水漏れ事故 ,  水漏れ調査 ,  照明装置 ,  原因調査 ,  走査電子顕微鏡法

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (2件)： 計算機トモグラフィー ,  破壊解析