Benkechkache M. A. について
Department of Electronics in the Science and Technology, Hyperfrequencies and Semiconductors Laboratory, University Constantine 1, Constantine, Algeria について
Latreche S. について
Department of Electronics in the Science and Technology, Hyperfrequencies and Semiconductors Laboratory, University Constantine 1, Constantine, Algeria について
Ronchin S. について
TIFPA-INFN, Universita` di Trento, Trento, Italy について
Boscardin M. について
TIFPA-INFN, Universita` di Trento, Trento, Italy について
Pancheri L. について
TIFPA-INFN について
Dalla Betta G.-F. について
TIFPA-INFN について
IEEE Transactions on Nuclear Science について
X線画像 について
電気的性質 について
耐放射線性 について
シミュレーション について
画素 について
応用プログラム について
キャラクタリゼーション について
センサ について
撮像装置 について
自由電子レーザ について
空間分解能 について
数値シミュレーション について
TCAD について
大面積 について
フラットパネルディテクタ について
放射線検出・検出器 について
FEL について
応用 について
エッジ について
平面検出器 について
設計 について
特性化 について