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J-GLOBAL ID：201702237777029453   整理番号：17A1108692

モデルからの教師あり学習による広視野干渉顕微鏡法におけるナノ粒子分類

Nanoparticle classification in wide-field interferometric microscopy by supervised learning from model

著者 (3件)： AVCI Oguzhan (Boston Univ., Massachusetts, USA) ,  YURDAKUL Celalettin (Boston Univ., Massachusetts, USA) ,  UENLUE M. Selim (Boston Univ., Massachusetts, USA)
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 56  号： 15  ページ： 4238-4242  発行年： 2017年05月20日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *光学顕微鏡法 ,  *干渉顕微鏡 ,  視野 ,  *教師つき学習 ,  解析モデル ,  *ナノ粒子 ,  自動分類 ,  学習アルゴリズム ,  焦点合せ ,  ナノ構造 ,  ポリスチレン
準シソーラス用語： デフォーカス ,  ナノスフェア ,  *干渉顕微鏡法 ,  広視野

分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O)

タイトルに関連する用語 (6件)： モデル ,  教師あり学習 ,  広視野 ,  干渉顕微鏡法 ,  ナノ粒子 ,  分類