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J-GLOBAL ID：201702237897439140   整理番号：17A0606253

二層グラフェンにおいて負の屈折と複屈折による電子ビーム分裂:多重散乱解析

Electron beam splitting due to negative refraction and birefringence in bilayer graphene: multiple scattering analysis

著者 (4件)： MAKSYM P. A. (Univ. Tokyo) ,  MAKSYM P. A. (Dept. of Physics & Astronomy, Leicester, GBR) ,  AOKI H. (Univ. Tokyo) ,  AOKI H. (AIST, Tsukuba)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 1  ページ： ROMBUNNO.17aB21-1  発行年： 2017年03月21日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *グラフェン ,  *屈折 ,  *複屈折 ,  群速度 ,  *多重散乱 ,  Gaussビーム ,  *電子ビーム ,  障壁 ,  透過 ,  *分散【dispersion】
準シソーラス用語： *二層グラフェン ,  *負の屈折 ,  障壁透過

分類 (1件)： 電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 二層グラフェン ,  負の屈折 ,  複屈折 ,  電子ビーム ,  多重散乱 ,  解析