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J-GLOBAL ID：201702238207799029   整理番号：17A1546984

時間分解電子ホログラフィーのためのゲート干渉【Powered by NICT】

Gated interference for time-resolved electron holography

著者 (3件)： Niermann T. (Technische Universitaet Berlin, Strasse des 17. Juni 135, 10623 Berlin, Germany) ,  Lehmann M. (Technische Universitaet Berlin, Strasse des 17. Juni 135, 10623 Berlin, Germany) ,  Wagner T. (Technische Universitaet Berlin, Strasse des 17. Juni 135, 10623 Berlin, Germany)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 182  ページ： 54-61  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 周期的過程のポンプ-プローブ測定は,時間依存信号のための時間ゲートを必要とする。この目的のために,不安定性への電子ホログラフィーのような干渉法の感度の利点を利用することを提案した。測定装置の同期障害とマイクロ秒の時間分解能をもつ電場の成功し測定によりこのようなゲーティングを実現した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： プローブ ,  計測器 ,  時間依存性 ,  不安定性 ,  時間分解能 ,  *干渉 ,  干渉測定 ,  電場
準シソーラス用語： ゲーティング ,  マイクロ秒 ,  *電子線ホログラフィー , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  システム設計・解析  (IA02030D) ,  燃焼一般  (XE04010W) ,  放電装置  (BJ03040P) ,  ホログラフィー一般  (BD03071V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 分解 ,  電子ホログラフィー ,  ゲート ,  干渉