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J-GLOBAL ID：201702238262668307   整理番号：17A1569173

カートリッジ症例表面欠陥のための高速検査システム【Powered by NICT】

High-speed inspection system for surface defect on cartridge case

著者 (7件)： Zhang Jing (School of Optoelectronic Information of University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China) ,  Zhong Ya (School of Optoelectronic Information of University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China) ,  Du Xiaohui (School of Optoelectronic Information of University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China) ,  Ni Guangming (School of Optoelectronic Information of University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China) ,  Liu Juanxiu (School of Optoelectronic Information of University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China) ,  Liu Lin (School of Optoelectronic Information of University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China) ,  Liu Yong (School of Optoelectronic Information of University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IAEAC  ページ： 1340-1344  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 薬きょう上の表面欠陥の自動化光学的検査における高い誤検出比と貧弱な実時間性能の問題を解決するために,視覚的高速法を提案した。対象とした拳銃の典型的な9mmカートリッジを例にとって,その表面材料,欠陥とその検出法の種類を考慮して,光学的検出システムは,マシンビジョンに基づいて確立した。表面上の金属組織の研究により,局所画像分散と局所二値パターンを結合したLBPVと呼ばれる検出演算子を提案した。GPUの並列アーキテクチャとハードウエアの特性に基づいて,集合組織記憶と共有メモリは,このアルゴリズムの複雑性を低減するために導入した。実験結果は,このアルゴリズムが薬きょうに表面欠陥を検出し,効果的に認識できることを示した。正確度は95.3%までに達し,ミッシング速度は0%であった。リアルタイム性能をLBPV演算子のためのGPU加速の結果として改善され,加速率は約60倍である。工業生産における高精度で実時間検出を満たした。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *高速度 ,  アルゴリズム ,  光検出 ,  ハードウェア ,  *カートリッジ ,  自動化 ,  *表面欠陥 ,  共有メモリ ,  検出法
準シソーラス用語： 高精度 ,  マシンビジョン ,  拳銃 ,  実時間 ,  誤検出 ,  *検査システム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： カートリッジ ,  症例 ,  表面欠陥 ,  検査システム