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J-GLOBAL ID：201702238649477595   整理番号：17A1635395

ピンアクセシビリティ駆動セルレイアウトの再設計と配置最適化【Powered by NICT】

Pin accessibility-driven cell layout redesign and placement optimization

著者 (4件)： Seo Jaewoo (School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea) ,  Jinwook Jung (School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea) ,  Sangmin Kim (School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea) ,  Youngsoo Shin (School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： DAC  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標準セルのレイアウトは非常に緻密で,いくつかのピンは,へのアクセスを得るために困難である。これは,多くのピン(例えばAOI)との複合体細胞とこれらの細胞の多くははるかに空白部なしに,充填された密集したレイアウトにおける特に真実である。がこれらの複雑な細胞を再設計,ライブラリーを現在容易ピンアクセスと元の細胞とその新バージョンの両方を含む系統的方法を再設計のための候補細胞を選択すると再設計を行うべきであるかを決定するために提案した。も細胞におけるピンの接近の測度を導入し,IOCはと命名した。配置最適化を行い,どの細胞がその再設計された版で置き換えるべきであると空白部は再分配されなければならないかを決定するためにIOCを用いた。12試験回路を用いた実験により,ルーティング誤差(初期配置後)の数は平均82%減少し,その後の詳細なルーティングは,実行時72%少ないことを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *アクセシビリティ ,  *再設計 ,  測度 ,  複合体 ,  再分布 ,  経路選定 ,  テスト構造 ,  標準電池

分類 (2件)： 核酸一般  (EB04010U) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： アクセシビリティ ,  設計 ,  配置最適化