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J-GLOBAL ID：201702239239553670   整理番号：17A1000653

n素子並列システムにおけるカスケード故障の尤度比検定を用いた発生検知に関する一考察

A note on a detection method of cascading failure-occurrences in n-component parallel systems by using likelihood-ratio test

著者 (2件)： 太田修平 (法政大 大学院理工学研究科) ,  木村光宏 (法政大 理工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 117  号： 161(R2017 14-23)  ページ： 1-6  発行年： 2017年07月21日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 並列システムにおいて,各素子がカスケード故障を起こす場合,そのシステムは独立故障を想定した場合の信頼性を発揮できない。従って,素子のカスケード故障の発生が確認された場合,信頼性工学の観点からは,その要因は排除されることが望ましい。ところが,実際に素子の故障が観測されたときに,その故障が設計通りであるか,それとも,カスケード故障であるかの定量的な評価は難しい。既存の手法としては,K-S検定を用いた統計的な評価手法が提案されている。本研究は,さらなる評価精度の向上を目的として,尤度比検定を用いて,素子の故障発生時刻が得られるごとに,その寿命分布のパラメータ推定を行い,直前までに推定したパラメータの値との乖離の統計的な有意性を評価することによって,カスケード故障の発生を検知する手法を提案する。そして,数値実験を行い,提案手法と既存の手法との精度比較を行う。(著者抄録)

シソーラス用語： *半導体チップ ,  *システム ,  *故障 ,  *尤度比検定 ,  *故障検出 ,  評価 ,  寿命分布 ,  パラメータ推定 ,  統計的有意性 ,  *カスケード型故障
準シソーラス用語： *並列システム ,  *カスケード故障 ,  定量的評価

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

引用文献 (18件)：

• M. Zelen, ed, Statistical theory of reliability, Madison: Uni-versity of Wisconsin Press; 1964.
• X. Yu and A. M. Khambadkone, Reliability analysis and cost optimization of parallel-inverter system, IEEE Trans-actions on Industrial Electronics, 2012;59(10):3881-3889.
• E. Chiodo and D. Lauria, Some basic properties of the fail-ure rate of redundant reliability systems in industrial elec-tronics applications, IEEE Transactions on Industrial Elec-tronics, 2015;62(8):5055-62.
• W. Q. Meeker and L. A. Escobar, Statistical methods for reliability data, Toronto: John Wiley and Sons; 1998.
• M. L. Shooman, Reliability of computer systems and net-works: fault tolerance, analysis, and design, Toronto: John Wiley and Sons; 2002.

タイトルに関連する用語 (3件)： 並列システム ,  カスケード故障 ,  尤度比検定