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J-GLOBAL ID：201702239407082995   整理番号：17A1036285

欠陥を持つ低電圧BMEセラミックコンデンサの故障モデル【Powered by NICT】

Failure models for low-voltage BME ceramic capacitors with defects

著者 (1件)： Teverovsky Alexander (ASRC Space and Defence. Greenbelt, MD 20771, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IRPS  ページ： 6C-5.1-6C-5.8  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近まで商業的応用で使用された卑金属電極(BME)多層セラミックキャパシタ(MLCC)の信頼性は,新しい材料とプロセスを用いて実質的に改善された。現在,高品質コンデンサの固有摩耗故障の発生が最も信頼性の高い応用のミッション期間よりもはるかに大きくなった。しかし,欠陥を有するキャパシタの劣化過程は実質的に加速し,乳児死亡率障害を引き起こす可能性がある。本研究では,破壊に欠陥の存在を関連破壊電圧および減少時間の減少にする物理的モデルを提案した。欠陥サイズの影響は,故障の熱散逸モデルを用いて解析した。電圧加速の正常運転条件と限界で信頼性を予測するための高加速寿命試験(HALT)の妥当性を考察した。亀裂を有するBMEコンデンサへのモデルの適用性を実験的に検討し,検証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 適応性 ,  多層 ,  *磁器コンデンサ ,  摩耗故障 ,  信頼性 ,  亀裂 ,  *電圧 ,  *コンデンサ
準シソーラス用語： 加速劣化試験 ,  熱散逸 ,  絶縁破壊電圧 ,  劣化過程 ,  高品質 ,  積層セラミックコンデンサ ,  *故障モデル , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： LCR部品  (NA05030D)

タイトルに関連する用語 (4件)： 欠陥 ,  低電圧 ,  セラミックコンデンサ ,  故障モデル