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J-GLOBAL ID:201702239534237248   整理番号:17A1246049

2D材料に適用した走査プローブホットエレクトロンナノスコピー(熱交換器ネットワーク)への実験的ルート【Powered by NICT】

Experimental Route to Scanning Probe Hot-Electron Nanoscopy (HENs) Applied to 2D Material
著者 (8件):
資料名:
巻:号: 15  ページ: null  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2486A  ISSN: 2195-1071  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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数分子と界面問題の構造と化学に及ぼす高度分光法のために導入されたホットエレクトロンナノスコピー(HENs)技術を実装する新しい実験装置の詳細を紹介した。原子間力顕微鏡(A FM)チップでの表面プラズモンのレーザ励起に用いたアーキテクチャの詳細な記述を提供した。チップから試料へ光発生電流をA FM走査中に検出された。技術はエレクトロニクスへの応用のための革新的な半導体に適用した:2D MoS_2単結晶およびp-型SnO層。結果は相補的走査Kelvinプローブ顕微鏡,従来の導電性A FM,Raman測定によって支持された。HEN技術により明らかにされた新しい特徴は,そうでなければ検出されないナノメートルスケールでMoS_2における局所的な複雑さとSnOの多結晶構造の詳細を明らかにした。本報で設定した技術はナノ接合と革新的な多層材料の今後の研究に有望である,界面に関する新しい洞察。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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固体デバイス製造技術一般  ,  顕微鏡法 
タイトルに関連する用語 (4件):
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