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J-GLOBAL ID：201702239555497231   整理番号：17A1637654

多層セラミックコンデンサの亀裂と剥離の音響的検出【Powered by NICT】

Acoustic detection of cracks and delamination in Multilayer Ceramic Capacitors

著者 (5件)： Levikari Saku ,  Karkkainen Tommi J. ,  Silventoinen Periti (LUT School of Energy Systems, Lappeenranta University of Technology, Lappeenranta, Finland) ,  Andersson Caroline (Department of Power Electronics, ABB Switzerland Ltd., Corporate Research Baden-Daettwil, Switzerland) ,  Tamminen Juha (ABB Oy, Drives Helsinki, Finland)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SDEMPED  ページ： 622-627  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多層セラミックコンデンサ(MLCC)はエレクトロニクス産業で最も広く使用されているコンデンサ型である。しかし,脆性セラミック誘電体は機械的損傷しやすいMLCCを可能にした。基板組立中の製造欠陥あるいは損傷はその運転寿命中の早期失敗にコンデンサを引き起こす可能性がある。,MLCCの迅速で非破壊的な音響スクリーニングを実証した。はんだ付けした2220サイズのMLCCはAC電圧周波数掃引を受けた,機械的に振動させるた。コンデンサの音響応答は試験回路基板を重篤な曲げを前後に測定した。結果は曲げによって生じる亀裂と剥離がコンデンサの音響応答の特徴的変化を誘導することを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *多層 ,  *亀裂 ,  誘電体 ,  脆性 ,  *セラミック ,  はんだ付 ,  *磁器コンデンサ ,  *コンデンサ ,  *音響 ,  電圧 ,  電子技術 ,  スクリーニング
準シソーラス用語： 回路基板 ,  周波数掃引 ,  積層セラミックコンデンサ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： LCR部品  (NA05030D)

タイトルに関連する用語 (4件)： 多層 ,  セラミックコンデンサ ,  亀裂 ,  音響