Kim F.H. について
National Institute of Standards and Technology, Intelligent Systems Division, Gaithersburg, MD, USA について
Moylan S.P. について
National Institute of Standards and Technology, Intelligent Systems Division, Gaithersburg, MD, USA について
Garboczi E.J. について
National Institute of Standards and Technology, Applied Chemicals and Materials Division, Boulder, CO, USA について
Slotwinski J.A. について
The Johns Hopkins University, Applied Physics Laboratory, Laurel, MD, USA について
Additive Manufacturing について
細孔径分布 について
亀裂 について
粒度分布 について
セグメンテーション について
細孔構造 について
多孔性 について
空隙率 について
画像分析 について
付加製造 について
三次元 について
画像 について
細孔 について
X線CT について
可視化 について
プロセスパラメータ について
アディティブマニュファクチャリング について
金属 について
Porosity について
X線計算機トモグラフィー について
画像解析 について
機械的性質 について
圧粉,焼結 について
変態組織,加工組織 について
X線 について
コンピュータ断層撮影 について
三次元画像解析 について
コバルト について
クロム について
細孔構造 について
研究 について