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J-GLOBAL ID：201702240409737923   整理番号：17A1650274

誘電体材料における固有の不連続性の検出のためのTHz TDS SAFT【Powered by NICT】

THz-TDS-SAFT for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials

著者 (2件)： Beckmann Jorg (Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), 12205 Berlin, Germany) ,  Spranger Holger (Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), 12205 Berlin, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IRMMW-THz  ページ： 1-2  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 今日,X線断層撮影および超音波合成開口集束技術は,非破壊試験の分野における欠陥イメージングのための代表的な例である。THzタイムドメイン分光法(TDS)は,短い電磁パルスで動作する。光学材料特性変化にパルスの感度は,誘電体材料中の欠陥の検出のためのTHz-TDSを魅力的である。残念なことに,不均一性と周囲材料マトリックスの間の小さな屈折率差が存在するかどうかをX線計算機トモグラフィー(CT)モデルはTHz-TDS再構成に対してのみ適用できる。制限を克服するために開発されている時間領域SAFTアルゴリズム。固有のアーチファクトをもつ代表的試料セットにTHz時間領域測定は画像再構成のためにそれらを使用した。結果は,再構成品質に関連したSAFTアルゴリズムを評価するために用いた試験物体の光学的表面画像を示し,比較した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *誘電材料 ,  アルゴリズム ,  電磁パルス ,  不均一性 ,  画像再構成 ,  X線CT ,  屈折率 ,  *不連続性 ,  タイムドメイン分光法 ,  アーチファクト ,  画像 ,  再構成
準シソーラス用語： 時間領域 ,  *SAFT ,  *テラヘルツ時間領域分光法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  赤外・遠赤外領域の分光法と分光計  (BD07042H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 誘電体材料 ,  固有 ,  不連続性 ,  TDS ,  SAFT