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J-GLOBAL ID：201702241721767568   整理番号：17A1645226

RESAR:exabyteスケール再考での信頼性のある貯蔵【Powered by NICT】

RESAR: Reliable storage at exabyte scale reconsidered

著者 (3件)： Schwarz S J Thomas (Marquette University, Milwaukee, WI) ,  Amer Ahmed (Santa Clara University, Santa Clara, CA) ,  Rose John (Xavier Institute of Engineering, Mumbai, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CSCITA  ページ： 84-89  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 貯蔵データはデバイスの損傷と回復不能部門読取誤差に対して保護する必要がある,exabyteスケールで行う処理しなければならない障害の大きな数のために,挑戦的である可能性がある。RESAR(ロバスト,効率的,スケーラブルで自律的で信頼性の高い)貯蔵,X ORベースのパリティを用いるだけであることを貯蔵システム冗長性へのアプローチを開発し,提示し,データとパリティ[5]をレイアウトへのグラフを採用した。RESAR信頼性のための解析的結果の証明を与えることにより著者らの以前の研究に追加した。ここに提示した結果は,サイズRESARレイアウトのための有効で等価RAID6ディスクアレイを有する螺旋RESARロバスト性の正確な比較を行うことを可能にする。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： フォールトトレランス ,  *信頼性 ,  冗長性 ,  ロバスト性 ,  ディスクアレイ ,  パリティ
準シソーラス用語： 自律性 ,  読取誤差 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 計算機網  (JC03000K) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (2件)： スケール ,  貯蔵