文献

J-GLOBAL ID：201702241870170144   整理番号：17A0663949

特許分類を用いたナノテクノロジーのモニタリング ナノテクノロジー分類スキームの概説および比較

Monitoring nanotechnology using patent classifications: an overview and comparison of nanotechnology classification schemes

著者 (2件)： JUERGENS Bjoern (Agency of Innovation and Dev. of Andalusia, Seville, ESP) ,  HERRERO-SOLANA Victor (Univ. Granada, Granada, ESP)
資料名： Journal of Nanoparticle Research  (Journal of Nanoparticle Research)
巻： 19  号： 4  ページ： 151,1-7  発行年： 2017年04月 
JST資料番号： W1361A  ISSN： 1388-0764  CODEN： JNARFA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近10年間に,ナノテクノロジーのモニタリングに対する関心が増大し,また,この分野での特許のパターンを取扱った計量書誌学研究の数が増大した。この状況に鑑みて,本論文では,特許分類を用いたナノテクノロジーのモニタリングについて,ナノテクノロジー分類スキームの概説および比較を記した。著者らは,ナノテクノロジー特許の探索に最も重要な分類を提示し,探索システムで用いる主な特許分類システムにおいて,ナノテクノロジーがどのように包括されているかを解析した。国際特許分類(IPC)および米国特許分類(USPC)と比べて,協同特許分類(CPC)は,広範囲のナノテクノロジーの特許文書を含み優れていること,を記した。

シソーラス用語： *ナノテクノロジー ,  *監視 ,  *特許分類 ,  *計量書誌学 ,  体系分類
準シソーラス用語： モニタリング ,  国際特許分類

分類 (2件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V) ,  情報源  (AC03000B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 特許分類 ,  ナノテクノロジー ,  モニタリング ,  分類 ,  スキーム