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J-GLOBAL ID：201702242035871798   整理番号：17A0467868

赤外線偏光子を利用したきずと背景反射の識別

著者 (4件)： 鈴木総司 (防衛大学校 院) ,  小林千恵 (防衛大学校 院) ,  山田浩之 (防衛大) ,  小笠原永久 (防衛大)
資料名： 日本非破壊検査協会秋季講演大会講演概要集
巻： 2016  ページ： 101-102  発行年： 2016年10月06日 
JST資料番号： L1257B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *サーモグラフィー ,  *偏光子 ,  *赤外線 ,  *亀裂 ,  偏光 ,  *認識 ,  反射率 ,  赤外線カメラ ,  反射面 ,  粘着テープ ,  *きず
準シソーラス用語： *赤外線偏光子 ,  *背景反射 ,  S偏光 ,  P偏光

分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (5件)： 赤外線 ,  偏光子 ,  きず ,  背景 ,  識別