LIN Jia-mu について
Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences について
DING Rui-jun について
Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences について
CHEN Hong-lei について
Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences について
SHEN Xiao について
Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences について
LIU Fei について
Research Center for Advanced Material and Device, Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences について
Jiguang yu Hongwai について
電離放射線 について
放射特性 について
機能障害 について
赤外線 について
CMOS について
宇宙空間 について
放射線 について
性能劣化 について
焦点面アレイ について
読出回路 について
焦点面 について
infrared focal plane arrays について
readout integrated circuit について
radiation effect について
赤外・遠赤外領域の測光と光検出器 について
半導体薄膜 について
その他の物質の放射線による構造と物性の変化 について
半導体の放射線による構造と物性の変化 について
赤外線 について
焦点面 について
読み出し回路 について
放射特性 について
研究 について