文献

J-GLOBAL ID：201702243110556084   整理番号：17A1062611

Gdをドープしたセリア膜における非弾性緩和:顕微Raman分光法【Powered by NICT】

Inelastic relaxation in Gd-doped ceria films: Micro-Raman spectroscopy

著者 (4件)： Kraynis Olga (Dept. Materials & Interfaces, Weizmann Institute of Science, Rehovot, Israel) ,  Wachtel Ellen (Dept. Materials & Interfaces, Weizmann Institute of Science, Rehovot, Israel) ,  Lubomirsky Igor (Dept. Materials & Interfaces, Weizmann Institute of Science, Rehovot, Israel) ,  Livneh Tsachi (Dept. Physics, Nuclear Research Center Negev, P.O. Box 9001, Beer Sheva 84190, Israel)
資料名： Scripta Materialia  (Scripta Materialia)
巻： 137  ページ： 123-126  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0915A  ISSN： 1359-6462  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 顕微Raman分光法およびX線回折を用いて,スパッタCe_1 xGd_xO_2~ x/2膜における時間依存性構造変化を研究した。F_2ピーク位置は五つの明確な膜位置で測定した。X線回折は,面内圧縮歪と単位胞体積を評価した。=0.05では,全ての場所ポストアニーリングをモニターし,F_2周波数は二週間と0.10に増加し,六週間に5か所の4でし続けた。この時間依存性挙動は,局所的な弾性双極子歪場の緩和に起因している。機械的性質,欠陥構造,時間的および熱履歴を考慮した場合にのみRaman分光法は,これらの材料の薄膜における歪を適切に評価できる。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ガドリニウム ,  薄膜 ,  *弾性 ,  X線回折 ,  *ドーピング ,  双極子 ,  時間依存性 ,  熱履歴 ,  *顕微Raman分光法 ,  歪場 ,  *Raman分光法
準シソーラス用語： 欠陥構造 ,  単位格子 ,  圧縮歪 ,  構造変化 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： Gdをドープしたセリア ,  擬弾性緩和 ,  Raman分光法

分類 (5件)： 金属組織観察法  (WB01010R) ,  炭素とその化合物  (YB02060D) ,  機械的性質  (WB02030U) ,  半導体の格子欠陥  (BK12040Q) ,  光化学一般  (CB08010U)

タイトルに関連する用語 (5件)： Gd ,  ドープ ,  セリア ,  非弾性緩和 ,  顕微Raman分光法