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J-GLOBAL ID：201702243178320068   整理番号：17A1164879

無線Destructible拡張可能な高分子を可能にした高性能固体エレクトロニクス【Powered by NICT】

Expandable Polymer Enabled Wirelessly Destructible High-Performance Solid State Electronics

著者 (13件)： Gumus Abdurrahman (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Alam Arsalan (Electrical Engineering, University of California at Los Angeles, Los Angeles, CA, 90095, USA) ,  Hussain Aftab M. (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Mishra Kush (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Wicaksono Irmandy (Electrical Engineering and Information Technology, Swiss Federal Institute of Technology (ETH), Raemistrasse 101, 8092, Zuerich, Switzerland) ,  Torres Sevilla Galo A. (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Shaikh Sohail F. (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Diaz Marlon (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Velling Seneca (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Velling Seneca (Mechanical Engineering, University of Waterloo, 110 Columbia Street, Waterloo, ON, N2L 3K8, Canada) ,  Ghoneim Mohamed T. (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Ahmed Sally M. (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia) ,  Hussain Muhammad M. (Integrated Nanotechnology Lab and Integrated Disruptive Electronic Applications (IDEA) Lab, Electrical Engineering, Computer Electrical and Mathematical Sciences and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Saudi Arabia)
資料名： Advanced Materials Technologies  (Advanced Materials Technologies)
巻： 2  号： 5  ページ： ROMBUNNO.201600264  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2485A  ISSN： 2365-709X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 今日のデジタル時代では,情報への依存性増加は,プライバシーおよびサイバーセキュリティの潜在的な侵入に脆弱であることを示した。ハードドライブである盗まれ,損失,又は見当違いなシナリオを考える,それは安全な貴重な情報を含んでいる。このような場合,それを回復することはできないならば,デバイスの高感度部分(例えば,メモリやプロセッサ)を破壊する遠隔能力を持っていることが重要である。論理プロセッサとメモリに用いられる多くの新しい材料とケイ素, アルミニウム, 亜鉛オキシド,タングステン,およびマグネシウムのようないくつかの伝統的な材料も様々な液体培地の被曝による溶存徐々にであることの有望性を示した。しかし,しばしばこれらの湿式プロセスは遅すぎる,完全破壊,液体材料の支援と必要時のそれらの適切なアベイラビリティを必要とする。本研究は必要に応じてと10s下の高性能固体エレクトロニクスを破壊する熱膨張性先進高分子材料と可撓性バルク単結晶シリコン(100)の間のJoule加熱効果誘起された熱膨張と応力勾配を示した。この研究はそのような相補型金属-酸化物-半導体エレクトロニクスの異なる刺激支援スマートフォン手術した遠隔破壊を示した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： アルミニウム ,  ディジタル方式 ,  記憶装置 ,  熱膨張 ,  抵抗加熱 ,  演算プロセッサ ,  *高分子 ,  柔軟性 ,  酸化物 ,  ケイ素 ,  *電子技術 ,  安全性 ,  半導体 ,  アベイラビリティ ,  サイバーセキュリティ

著者キーワード (3件)： CMOS ,  分解性エレクトロニクス ,  膨張性重合体

分類 (2件)： データ保護  (JD01020V) ,  電力系統一般  (NB02000E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 無線 ,  拡張 ,  高分子 ,  高性能