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J-GLOBAL ID：201702243218163321   整理番号：17A1930766

STM32MCUに基づくインダクタンス測定器の研究と実現【JST・京大機械翻訳】

The research and realization of the inductance measurement based on STM32 single chip microcomputer

著者 (3件)： Zhang Qingzhi (新郷学院 机電工程学院,河南 新郷,453003) ,  Li Xiaoyan (新郷学院 机電工程学院,河南 新郷,453003) ,  Song Keke (新郷学院 机電工程学院,河南 新郷,453003)
資料名： Diance yu Yibiao  (Diance yu Yibiao)
巻： 54  号： 15  ページ： 103-106,112  発行年： 2017年 
JST資料番号： C3447A  ISSN： 1001-1390  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 本論文では,RLの過渡解析原理に基づくインダクタンス測定法を提案し,STM32チップのハードウェア資源と簡潔で効率的なソフトウェア設計思想を利用し,少量の一般的な素子と組み合わせて,簡単な構造のインダクタンス測定回路を設計した。同時に,LabVIEWプログラムを用いて,コンピュータプログラムをコンパイルし,最後に,誤差解析により,部品選択とソフトウェア設計の両方から,システム誤差をさらに低減した。実際の試験と実験室の応用により、この測定器の性能は安定で、操作は便利で、測定結果の精度は比較的高く、しかも迅速で、明確で、自動測定でいくつかの測量値を測定でき、しかも比較的に強い拡張性がある。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 過渡解析 ,  *計測器 ,  ハードウェア ,  自動計測 ,  誤差解析 ,  ソフトウェア設計 ,  計算機プログラム
準シソーラス用語： LabVIEW , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： inductance measurement ,  transient analysis ,  single chip microcomputer ,  LabVIEW ,  error

分類 (1件)： 計算理論  (JB02000A)

タイトルに関連する用語 (2件)： インダクタンス測定 ,  研究