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J-GLOBAL ID:201702243283909368   整理番号:17A1730303

自己入院技術負債の除去に関する実験的研究【Powered by NICT】

An Empirical Study on the Removal of Self-Admitted Technical Debt
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: ICSME  ページ: 238-248  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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技術負債は,将来の高い維持努力のコストで短期利得を達成するためにショートカットの現象である。最近,アプローチはコードコメントを通した技術的負債,自己入院技術負債(SATD)と呼ばれるを検出するために開発した。その重要性のために,いくつかの研究は,SATDの検出に焦点を当て,ソフトウェア品質に及ぼすその影響を検討した。しかし,予備的知見は,いくつかのケースでSATDは長時間,すなわち10年以上プロジェクトに住んでいる可能性があることを示した。これらの知見は,全てではないSATDは「悪い」と見なされ,いくつかのSATDを除去する必要があることを明確に示したが,他のSATDは着けるのに微細である可能性がある。それ故,本論文では,SATDの除去を調べた。五オープンソースプロジェクトに関する経験的研究では,SATDが除去されるか,SATDを除去したまた,SATDプロジェクトに生息するいつまで調べ,どのような活性は,SATD著者らの知見SATDの大部分は除去され,大部分は自己除去(すなわち,それを導入した同一人物による除去)であることを示したの除去をもたらす調べた。さらに,SATDは約18 172日間継続し,中央値にできることを見出した。最後に,現像液調査を通して,著者らは,開発者は改善を必要とするコードの将来と地域を追跡するためのSATDを用いることを見出した。,バグを固定または新しい特徴を添加したとき開発者はほとんどSATDを除去した。著者らの知見は,SATD,特に,その除去に関係する証拠に関する経験的証拠の主要部へ貢献した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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計算機システム開発 
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