分子による表面ランドスケープの探索: 高速微小角入射条件下でのLiF(001)上におけるH<sub>2</sub>の回転誘起回折

del Cueto M.; Muzas A. S.; Somers M. F.; Kroes G. J.; Diaz C.; Martin F.

文献

J-GLOBAL ID：201702243383787864 整理番号：17A0790635

分子による表面ランドスケープの探索: 高速微小角入射条件下でのLiF(001)上におけるH₂の回転誘起回折

Exploring surface landscapes with molecules: rotationally induced diffraction of H₂ on LiF(001) under fast grazing incidence conditions

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資料名：
巻： 19 号： 25 ページ： 16317-16322 発行年： 2017年
JST資料番号： A0271C ISSN： 1463-9076 CODEN： PPCPFQ 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

高速微小角入射条件下における表面の原子回折については,従来の原子回折法に比べて,より精度の高い表面特性キャラクタリゼーションを行なうことを目的として,ほぼ10年間使われてきた。本研究では,時間依存性Schroedinger方程式の6次元解を基にして次のことを明らかにした。即ち,分子の四重極モーメントとイオン結晶が作る電場との間の大きな異方性静電相互作用により,イオン表面のキャラクタリゼーションに関するより多くの情報が,高速微小角入射条件下でのH₂分子回折から得られる可能性があることである。H₂による高速微小角入射回折は分子の初期の回転状態に強く依存し,他方,回転非弾性過程には無関係であることをLiF(001)をベンチマークとして用いて明らかにした。又,本研究では次のことを実証した。即ち,衝突する入射粒子に異方性がある結果,初期の回転励起が原因となり,厳密な対称性の制限条件を満たす入射方向において高次の回折のピーク強度が増加することになった。従って,高速微小角入射条件での低次の原子回折ピークから得る表面特性に関する情報よりも,さらに詳細な情報を得ることができた。四重極イオン表面電位はH₂とイオン性の強いどの様な表面との間の相互作用でも正確に反映すると期待できたので,本研究による解析は類似する表面に対して広く応用できるであろう。最後に,分子-イオン表面電位に関して密度汎関数理論を適用すると,実験で認められた主要な特徴が把握できることを明らかにした。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST

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分子の性質一般

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分子による表面ランドスケープの探索: 高速微小角入射条件下でのLiF(001)上におけるH2の回転誘起回折

分子による表面ランドスケープの探索: 高速微小角入射条件下でのLiF(001)上におけるH₂の回転誘起回折