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J-GLOBAL ID：201702243725599286   整理番号：17A1273584

コントラスト強調と雑音除去のための統一モデル【Powered by NICT】

Unified Model for Contrast Enhancement and Denoising

著者 (3件)： James Alex Pappachen ,  Krestinskaya Olga ,  Mathew Joshin John
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISVLSI  ページ： 379-384  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,著者らは大部分の画像処理応用に必要であることを二つの重要な相補的操作,すなわちコントラスト増強と雑音除去を統一する困難な作業を試みた。提案した方法は,視覚センサと統合されるのに有用である近実時間処理能力をもたらすことを実用的なアナログ回路構成を用いて実装した。性能のための用いられているメトリックスは残留雑音レベル(RNL),構造類似性指数測定(SSIM),出力への入力コントラスト比(CRo_i)とその複合スコア(SCD)の推定を含んでいる。クラスコントラスト強調の方法が増加したコントラスト測度(CRo i≧入力画像のそれよりも八倍)およびSSIM≦0.52と共により高い雑音レベル(RNL≧7)をもたらした。雑音除去法は,より少ない騒音レベル(RNL≦0.2308),貧弱なコントラスト増強(CRo i≦1.31)と最良と構造類似性(SSIM≧0.85)を持つ画像を生成する。とは対照的に,提案したモデルが最も良いコントラスト伸縮(CRo i=5.83),最小雑音(RNL=0.02),下降構造類似性(SSIM=0.6453)と最も高い複合スコア(SCD=169)を提供する。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 類似性 ,  画像処理 ,  測度 ,  アナログ回路 ,  *コントラスト ,  画像 ,  *雑音除去 ,  視覚センサ ,  雑音指数 ,  実時間処理 ,  *雑音
準シソーラス用語： スコア ,  構造的類似性 ,  メトリックス ,  *コントラスト強調 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： コントラスト強調 ,  雑音除去 ,  統一モデル