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J-GLOBAL ID：201702243823536532   整理番号：17A1650365

ホットエレクトロン動力学の実空間ナノイメージング【Powered by NICT】

Real-space nano-imaging of hot electron dynamics

著者 (6件)： Weng Qianchun (Institute of Industrial Science, The University of Tokyo, Komaba 4-6-1, Meguro-ku, Tokyo, 153-8505, Japan) ,  Komiyama Susumu (Department of Basic Science, The University of Tokyo, Komaba 3-8-1, Meguro-ku, Tokyo, 153-8902, Japan) ,  Yang Le (Department of Physics, Fudan University, Shanghai 200433, PR China) ,  An Zhenghua (Department of Physics, Fudan University, Shanghai 200433, PR China) ,  Kajihara Yusuke (Institute of Industrial Science, The University of Tokyo, Komaba 4-6-1, Meguro-ku, Tokyo, 153-8505, Japan) ,  Lu Wei (National Laboratory for Infrared Physics, Shanghai Institute of Technical Physics, the Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200083, PR China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IRMMW-THz  ページ： 1-3  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 室温で局所超高周波21テラヘルツ,THz)ショット雑音を走査することにより直接ホットエレクトロンイメージングの最初の実験結果を示した。非平衡状態では,電流が流れている電子(ショット雑音として知られている)の局所的ゆらぎは,電子動力学の指紋状情報を含んでいる。GaAs/AlGaAs量子井戸(QW)ナノデバイスにおけるホットエレクトロン動力学を検出局所的に可動,非接触雑音プローブとして鋭いタングステンチップを使用した。実空間ホットエレクトロン分布とナノスケールエネルギー散逸は,初めて直接可視化した。実験技術は種々の現象の局所非平衡動力学を研究するための強力なツールを提供するであろう。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ホットエレクトロン ,  ゆらぎ ,  ヒ化ガリウム ,  テラヘルツ波 ,  エネルギー散逸 ,  非平衡状態 ,  SHF【周波数】 ,  雑音 ,  ヒ化ガリウムアルミニウム ,  ショット雑音 ,  プローブ ,  量子井戸
準シソーラス用語： ナノスケール ,  ナノデバイス ,  *実空間 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 半導体結晶の電気伝導  (BM03043X) ,  流体力学一般  (BC01010Z) ,  数理物理学  (BA03000W) ,  無機化合物一般及び元素  (CD01010D) ,  有機化合物の電気伝導  (BM03045F)

タイトルに関連する用語 (4件)： ホットエレクトロン ,  動力学 ,  実空間 ,  ナノイメージング