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J-GLOBAL ID：201702244040913114   整理番号：17A1256926

TFT-LCDパネルの機能試験のためのFPGAに基づくパターン生成システム【Powered by NICT】

An FPGA-based pattern generation system for functionality test of TFT-LCD panels

著者 (3件)： Wei Li (College of Internet of Things Engineering, Hohai University, Changzhou, China) ,  Yongjian Liu (College of Internet of Things Engineering, Hohai University, Changzhou, China) ,  Zhixiang Deng (College of Internet of Things Engineering, Hohai University, Changzhou, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICSigSys  ページ： 185-189  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 薄膜トランジスタ(TFT)-液晶ディスプレイ(LCD)パネルの品質監視を確実にし,全生産プロセスにおける欠陥製品を検出するために,本論文では,TFT-LCDパネルの機能試験のためのパターン生成システム,PCベースのグラフィックユーザインタフェイス(GUI)と試験信号発生器から構成されているを示した。PCは主にGUIを提供するために使用し,ユーザが多機能試験に必要なタイミングとパターンを編集することを可能にした。,編集されたタイミングとパターンは試験ファイルの形で試験信号発生器にダウンロードされる。試験ファイルをダウンロードする後,試験信号発生器はPCのLVDS信号の発生を実装独立にできる。最後に,LVDSインタフェイスを用いた,試験信号発生器は生産ラインにおけるTFT-LCDに接続された機能性試験を実施することができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 生産ライン ,  品質 ,  生産プロセス ,  *パネル ,  薄膜トランジスタ ,  GUI【計算機】 ,  インタフェイス ,  液晶ディスプレイ ,  信号発生器 ,  *FPGA
準シソーラス用語： 機能性 ,  LVDS ,  多機能 ,  *TFT-LCD , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： TFT-LCD ,  試験 ,  FPGA ,  生成システム