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J-GLOBAL ID：201702244856294302   整理番号：17A1138306

VIPAを用いた光コム干渉シングルショット2次元断層計測へ向けた干渉次数判別法

著者 (2件)： 國分太志 (埼玉大 大学院) ,  塩田達俊 (埼玉大 大学院)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 78th  ページ： ROMBUNNO.5a-A414-8  発行年： 2017年08月25日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 二次元 ,  周波数 ,  *断層画像 ,  *トモグラフィー ,  *光干渉 ,  位相板 ,  ガラス ,  Mach-Zehnder干渉計 ,  変調器 ,  形状測定 ,  高分解能 ,  信号特性 ,  自己相関関数 ,  非接触測定
準シソーラス用語： 位相変調器 ,  *光コム

分類 (2件)： 光学情報処理  (BD03060T) ,  光デバイス一般  (BD06010L)

タイトルに関連する用語 (8件)： 光コム ,  干渉 ,  ショット ,  2次元 ,  断層 ,  計測 ,  次数 ,  判別