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J-GLOBAL ID：201702245344343173   整理番号：17A0374425

光学顕微鏡を用いた部分的結晶粒方位情報の獲得【Powered by NICT】

Acquisition of partial grain orientation information using optical microscopy

著者 (3件)： Seita Matteo (Department of Materials Science & Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, 02139, USA) ,  Nimerfroh Michael M. (Department of Materials Science & Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, 02139, USA) ,  Demkowicz Michael J. (Materials Science and Engineering, Texas A&M University, College Station, TX, 77843, USA)
資料名： Acta Materialia  (Acta Materialia)
巻： 123  ページ： 70-81  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0316A  ISSN： 1359-6454  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光学顕微鏡(OM)は,その単純さと低コストのために,材料の表面を特性化するために用いられた最初の技術であることが多い。しかし,OMにより得られた情報は,通常微細構造特徴の形状と空間分布に限定されている。多結晶金属の定量的微細構造解析を行い,入射光方向の反射率の測定から部分的な結晶粒配向情報を評価するための先進OM技法を提案した。筆者らの技法は,制御した光照射条件下で一連の光学顕微鏡写真の収集に依存している。反射率の顕著な依存性を見出し,個々の結晶粒の表面にサブミクロンファセットに帰した。これら表面ファセットは,相関結晶粒配向した。顕微鏡写真のディジタル処理と数値解析による筆者らの技術を自動化,簡単な利用と安価な方法であるが豊富な微細構造のデータを発生することを可能にした。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 微細構造 ,  *結晶粒 ,  顕微鏡写真 ,  空間分布 ,  反射率 ,  多結晶 ,  画像分析 ,  キャラクタリゼーション ,  数値解析 ,  構造解析 ,  *光学顕微鏡 ,  ファセット
準シソーラス用語： 低価格 ,  ディジタル処理 ,  入射光 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 光学顕微鏡 ,  結晶粒配向マッピング ,  定量的金属組織学 ,  数値画像解析 ,  多結晶金属

分類 (3件)： 変態組織,加工組織  (WB01030N) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y) ,  金属組織観察法  (WB01010R)

タイトルに関連する用語 (4件)： 光学顕微鏡 ,  結晶粒 ,  方位 ,  獲得