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J-GLOBAL ID：201702246117716038   整理番号：17A1343368

荷電強誘電分域壁での偏光に駆動されたコンダクタンス変動【Powered by NICT】

Polarization driven conductance variations at charged ferroelectric domain walls

著者 (11件)： Pawlik A.-S. (IFW-Dresden, Helmholtzstr. 20, 01069 Dresden, Germany. [e-mail]) ,  Kaempfe T. ,  Haussmann A. ,  Woike T. ,  Treske U. ,  Knupfer M. ,  Buechner B. ,  Soergel E. ,  Streubel R. ,  Koitzsch A. ,  Eng L. M.
資料名： Nanoscale  (Nanoscale)
巻： 9  号： 30  ページ： 10933-10939  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2323A  ISSN： 2040-3364  CODEN： NANOHL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 強誘電材料における導電性分域壁(CDW)は,ナノスケール,オプトエレクトロニクス素子の多様体への応用のための有望な候補である。が,それらの微視的性質の特性化は,それらの小さな寸法と高絶縁性環境のために困難なままである。ここでは,光電子放出電子顕微鏡(PEEM)と第二高調波発生(SHG)顕微鏡法の組合せによる単結晶LiNbO_3における個々のCDWを調べた。SHGが全体分域壁傾斜角αを明らかにするが,PEEMは局所コンダクタンス変動に敏感で,ドメイン壁から離れた。このようにして,二つのイメージング技術は,大視野の相補的情報を提供する。以前の理論的予測と一致して,局所コンダクタンスはαによって決定され,そして,それらの間の定量的関係を明らかにすることを見出した。著者らの結果は,CDWの電子構造を解明し,高抵抗環境における局所コンダクタンス変化をマッピングするための非接触特性化ツールとしてPEEMの価値を強調するのに役立つ。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *偏光 ,  第二高調波発生 ,  画像技術 ,  キャラクタリゼーション ,  *コンダクタンス ,  顕微鏡観察 ,  *電荷 ,  光電子放出 ,  単結晶 ,  電子構造 ,  電子顕微鏡 ,  導電性 ,  傾斜角
準シソーラス用語： ナノスケール ,  *分域境界 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体-金属接触  (BM03084G) ,  炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (4件)： 荷電 ,  誘電分域壁 ,  偏光 ,  コンダクタンス