Li Xiaoqing について
School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Gao Bin について
School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Woo Wai Lok について
School of Electrical and Electronic Engineering, Newcastle University, Newcastle upon Tyne, U.K. について
Tian Gui Yun について
School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Qiu Xueshi について
University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Gu Liangyong について
University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
IEEE Sensors Journal について
故障検出 について
非破壊検査 について
信頼性 について
前処理 について
サーモグラフィー について
サイジング について
視覚検査 について
後処理 について
アルゴリズム について
表面亀裂 について
マシンビジョン について
画像セグメンテーション について
亀裂検出 について
定量的評価 について
パルス電流 について
非破壊試験 について
渦電流 について
パルス について
サーモグラフィー について
定量 について
表面き裂 について
評価 について