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J-GLOBAL ID:201702246489352415   整理番号:17A1517087

小型半導体チェッカーの開発

著者 (4件):
資料名:
巻: 25  号: 11  ページ: 25-27  発行年: 2017年11月01日 
JST資料番号: Z0898C  ISSN: 0919-6471  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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・JR東日本の郡山総合車両センターでは新型車両が6割を超え,電子機器の半導体の故障に対処するため,半導体素子の試験が簡易にできる小型半導体チェッカーを開発。
・トランジスタ・FET・ダイオード・LEDが測定可能で,測定したい半導体素子のピンに無作為にクリップを取り付けるだけで素子の種類を自動判別し,約30秒で測定可能。
・本開発品は半導体素子の劣化について自動合否判別が可能であり,かつ,基本的な特性がグラフや数値で表示されるため教育用教材としても有効。
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分類 (1件):
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鉄道車両修理 
タイトルに関連する用語 (2件):
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