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J-GLOBAL ID：201702246579276480   整理番号：17A0920614

メイド イン ジャパン

著者 (1件)： 清原元輔 (清原光学)
資料名： 光技術コンタクト  (Optical and Electro-Optical Engineering Contact)
巻： 55  号： 7  ページ： 1-4  発行年： 2017年07月20日 
JST資料番号： S0624A  ISSN： 0913-7289  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 光学を基礎としてメイドインジャパンの商品開発を行っている。特に,日本の半導体技術を利用し,偏光素子を用いた高速偏光干渉計の製品化を進めている。本報告では,高速偏光干渉計の製品の概要について紹介した。従来のフィゾー型干渉計では,動的波面の連続計測が困難であったが,高速な干渉画像を記録できる高速度偏光干渉計を開発した。本装置では,偏光素子アレイ撮像デバイスを採用することで,7000フレーム/秒という高速な動作を実現した。干渉計の設置に防振を必要とせず,工場などの振動する場所でも設置可能であった。また,高速な動的干渉波面を動画として可視化できた。これにより,機械的に振動する光学面変形のモードや,高速気流の屈折率分布変化なども可視化できた。偏光素子アレイを光電変換アレイの上に装着した基本構成を示した。光電変換アレイが検出する光強度などの特性を示した。世界最速の偏光干渉計は,世界に先駆けた技術開発に有用である。

シソーラス用語： 日本 ,  *干渉計 ,  光干渉 ,  *光干渉法 ,  *撮像装置 ,  屈折率分布 ,  偏光子 ,  動的相互作用 ,  製品開発 ,  技術開発 ,  連続計測 ,  可視化 ,  高速度
準シソーラス用語： 偏光干渉

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (1件)： ジャパン