文献
J-GLOBAL ID:201702247487644844   整理番号:17A0400471

PIXE,EDXRF,LA-ICP-MSとSEM-EDSによる古代高銀合金における表面銀富化の研究【Powered by NICT】

Investigation of surface silver enrichment in ancient high silver alloys by PIXE, EDXRF, LA-ICP-MS and SEM-EDS
著者 (10件):
資料名:
巻: 131  ページ: 103-111  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0072A  ISSN: 0026-265X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
高銀(Ag)含有量を呈した表面元素分析は非常に純粋なAg合金から生産され,それはそれに応じて参照銀貨の元のバルク組成のための信頼性の高いと見なされてきた。,表面元素組成分析の結果は,表面Ag富化によって影響される程度はAg含有量 91.2wt.%銅(Cu)固溶度の最大値に属するより大きいAg粒度と貨幣合金における無視されてきた。PIXEおよびEDXRF結果は,千分の916.6の法的Ag粒度と十六世紀に発行されたポルトガル11dinheiros銀貨上で得られ,4~7%高いAg表面含有量を示した。コイン厚さを通してLA-ICP-MS及びμ-PIXEにより同定した時,表面測定したAgの過大評価は,コインのバルクよりも表面に50%少ないCuを表すCu空乏勾配に関連している。SEM-EDSによる表面下微細構造のキャラクタリゼーションは,Cu相が枯渇した重要な表面層の存在を明らかにし,<70μm厚さを持つ,主にコイン製造プロセス中の粒界腐食に起因する。これらの層は破壊または侵襲分析によりアクセスされなければならない,EDXRFで得られた情報放出深さを超えた厚さはAgKα/Lα比により同定できなかった。分析,EDXRF,PIXE,SEM-EDS及びLA-ICP-MSの異なる方法の組合せにより示したように,表面分析技術により得られた結果は,これらの高いAg含有量コインのための元のバルク組成と異なる可能性があると歴史的背景と情報と共に用心をしなければならない。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
有機物質中の元素の物理分析  ,  有機物質中の元素の各種分析  ,  金属,合金の物理分析 

前のページに戻る