抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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標的productspaceのためのプロセッサマイクロアーキテクチャを定義する性能,電力および信頼性軸を横切る多次元最適化を含んでいる。sucha定義プロセスにおいて重要な決定は,回路と技術主導公称(電圧,周波数)運転点parameterofである。これは挑戦的な仕事であり,これらのメトリックス間の個別orpair賢明な最適化通常threedimensionsの少なくとも一つの仕様の短いdesignthat転倒が生じる。学術研究の支援で,産業はエネルギーおよび性能関連計量considerbothことnowadopted早期定義方法論を持っている。一方,Reliabilityrelatedenhancementsは活性の分離糸によるfactoredinを得る傾向にある。タスクは典型的には性能コストを持っていてもenergyorのpursuedwithout完全なプレシリコン定量。後期CMOS designeraで,信頼性はプレシリコンdefinitionprocessにポストシリコンafterthoughtor検証のみ努力から移動する必要がある。本論文では,BRAVO,信頼性を意識した設計空間探索なmethodologyforを提示した。BRAVOisはintegratesperformance,電力および信頼性モデリング能力をマルチコアシミュレーション枠組みにより支持される。信頼性モデル内の軟被覆球と硬両断層発生arecapturedに起因する誤差。平衡信頼性メトリック(BRM)notionof,ソフトandhard誤差発生を横切るプロセッサの全体的な信頼性を評価usetoを導入した。はこのメトリックに関して79%までimprovementin信頼性を示し,効率をmaximizeenergy設計点以上6%dropin総合エネルギー効率のみであった。も産業環境におけるBRAVOのいくつかの実生活usecaseapplicationsを実証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
