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J-GLOBAL ID：201702248078948076   整理番号：17A1457616

Jonesマトリックス品質因子と脱分極の推定【Powered by NICT】

Estimating Depolarization with the Jones Matrix Quality Factor

著者 (7件)： Hilfiker James N. (J.A. Woollam Co. Inc., 645 M Street, Lincoln, NE 68508, USA) ,  Hale Jeffrey S. (J.A. Woollam Co. Inc., 645 M Street, Lincoln, NE 68508, USA) ,  Herzinger Craig M. (J.A. Woollam Co. Inc., 645 M Street, Lincoln, NE 68508, USA) ,  Tiwald Tom (J.A. Woollam Co. Inc., 645 M Street, Lincoln, NE 68508, USA) ,  Hong Nina (J.A. Woollam Co. Inc., 645 M Street, Lincoln, NE 68508, USA) ,  Schoche Stefan (J.A. Woollam Co. Inc., 645 M Street, Lincoln, NE 68508, USA) ,  Arwin Hans (Department of Physics, Chemistry, and Biology, Linkoping University, SE 581 83 Linkoping, Sweden)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 421  号： PB  ページ： 494-499  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Mueller行列(MM)測定は,試料の偏光解消能力を定量化する能力を提供する。偏光解消は偏光解消指数や偏光の平均程度のような用語を用いて推定することができる。しかし,これらの計算は完全なMMの測定を必要とする。交互偏光解消計量,Jones行列品質因子,Q_JMと呼ばれる完全なMMを必要としないを提案した。計量は,最小二乗の意味で,Jones行列を測定Mueller行列に見出すことができるか近いの尺度を提供する。等方性及び異方性脱分極試料の偏光解消の他の伝統的な計算にQ_JMの使用を実証し,比較脱分極と円形二重減衰の両方を示す不均一被覆,異方性結晶基板,及びカブトムシクチクラを含む。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： Mueller行列 ,  最小二乗法 ,  結晶 ,  偏光解消 ,  等方性 ,  偏光 ,  異方性 ,  *脱分極 ,  Jones行列 ,  被覆
準シソーラス用語： *品質因子 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (9件)： depolarization ,  分光偏光解析法 ,  Mueller行列 ,  Mueller行列偏光解析法 ,  Jones行列品質因子 ,  depolarization ,  指標 ,  厚さ不均一性 ,  anisotropy

分類 (3件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V) ,  レーザ照射・損傷  (BK16040S)

タイトルに関連する用語 (4件)： マトリックス ,  品質因子 ,  脱分極 ,  推定