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J-GLOBAL ID:201702248160960397   整理番号:17A1206859

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著者 (1件):
資料名:
巻: 48  号:ページ: 55-58  発行年: 2017年03月 
JST資料番号: B0240B  ISSN: 0263-6050  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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XRF分析の代表サンプルの調整方法について解説した。高品質のセメントを製造するために原料,中間製品,最終製品の鉱物組成と化学成分を測定する必要がある。この各段階で品質を確実にするために試料を抽出し,加工して分析する。試料の加工は予備的な試料の大きさの調整,試料の分割,試料の微細化,次工程の分析に従ってペレットの製造を含む。過去数年間でXRF分析の検出限界が微量レベルまで格段に向上したため,試料の調整が重要になっている。そのために適切な粒径を有する完全に代表的な試料が必要である。
シソーラス用語:
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分類 (2件):
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セメントの性質・分析  ,  無機物質の物理分析一般 
タイトルに関連する用語 (1件):
タイトルに関連する用語
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