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J-GLOBAL ID：201702248517618340   整理番号：17A0262221

多重画像センサモジュールの電離放射線損傷の比較研究【JST・京大機械翻訳】

Comparative Study on Ionizing Radiation Damage of Different Types of Image Sensor Modules

著者 (6件)： Xu Shoulong (Hunan Provincial Key Laboratory of Emergency Safety Technology and Equipment for Nuclear Facilities,University of South China) ,  Zou Shuliang (Hunan Provincial Key Laboratory of Emergency Safety Technology and Equipment for Nuclear Facilities,University of South China) ,  Wu Zhao (Hunan Provincial Key Laboratory of Emergency Safety Technology and Equipment for Nuclear Facilities,University of South China) ,  Luo Zhiping (Institute of Nuclear Agricultural Science &Space Mutation Breeding) ,  Huang Youjun (Nuclear Power Institute of China) ,  Cai Xiangming (Hunan Provincial Key Laboratory of Emergency Safety Technology and Equipment for Nuclear Facilities,University of South China)
資料名： Yuanzineng Kexue Jishu  (Yuanzineng Kexue Jishu)
巻： 50  号： 11  ページ： 2092-2100  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2078A  ISSN： 1000-6931  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： Γ線照射環境において最も強い強化可能性を持つ画像センサモジュールを選択するために,7種類のセンサの模組Fu照の前後の実時間収集と暗画像のパラメータを比較し,異なる種類のアナログ画像センサモジュールとデジタル画像センサモジュールの耐放射線性能を研究した。放射線損傷機構について議論した。実験結果は以下を示す。Γ線の画像センサモジュールに対する損傷及び干渉程度はモジュールのタイプ、画像センサーの制作技術、照射線量率及び総線量と関係がある。線量率による干渉と線量率は単純な線形関係ではない。レンズレンズの透過率は累積線量の増加とともに減少した。入射Γ線は,取得した画像の品質に対する干渉と環境光線の強度と関係があり,弱い信号は,光子によって導入されるノイズにより容易に侵入される。これらの結果は,Γ線による画像センサの損傷と干渉が,各ピクセルの暗電流と正のパルス粒子の雑音によって引き起こされることを示した。実験分析により,相補的金属酸化物半導体(CMOS)プロセスを用いたデジタルカメラは,Γ線照射環境におけるリアルタイムモニタリングにより適しているが,放射線環境における作業の信頼性と寿命を強化するために,強化手段を採用する必要がある。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 放射線量 ,  *放射線障害 ,  線量率 ,  *センサ ,  画素 ,  線形性 ,  ディジタル方式 ,  *イメージセンサ ,  光子ビーム ,  暗電流 ,  透過率 ,  耐放射線性 ,  *電離放射線 ,  光子 ,  *画像

著者キーワード (4件)： image sensor ,  ionizing radiation damage ,  total ionizing dose effect ,  dose rate effect

分類 (1件)： 核融合装置  (BJ02083Z)

タイトルに関連する用語 (6件)： 多重 ,  画像センサ ,  モジュール ,  電離放射線 ,  損傷 ,  研究