Yousefi Bardia について
Department of Electrical and Computer Engineering, Laval University, Quebec city, QC G1V 0A6, Canada について
Sfarra Stefano について
University of L’Aquila, Las.E.R. Laboratory, Department of Industrial and Information Engineering and Economics (DIIIE), Piazzale E. Pontieri no. 1, I-67100, Monteluco di Roio, Roio Poggio, L’Aquila, AQ, Italy について
Sfarra Stefano について
Tomsk Polytechnic University, Lenin Av., 30, Tomsk 634050, Russia について
Ibarra Castanedo Clemente について
Department of Electrical and Computer Engineering, Laval University, Quebec city, QC G1V 0A6, Canada について
Maldague Xavier P.V. について
Department of Electrical and Computer Engineering, Laval University, Quebec city, QC G1V 0A6, Canada について
Infrared Physics & Technology について
非破壊検査 について
特異値分解 について
炭素繊維強化プラスチック について
画像 について
共分散 について
赤外線画像 について
高次元 について
サーモグラフィー について
アルミニウム について
熱画像 について
プレキシガラス について
クラスタリング法 について
共分散行列 について
熱画像解析 について
主成分サーモグラフィー について
Candid共分散自由インクリメンタル主成分サーモグラフィー について
非破壊試験(NDT) について
Kメドイドクラスタリング について
赤外・遠赤外領域の測光と光検出器 について
非破壊試験 について
共分散 について
サーモグラフィー について
非破壊検査 について
解析 について