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J-GLOBAL ID：201702249259221775   整理番号：17A0907228

ディスク型セラミック真空絶縁体のフラッシュオーバ特性に及ぼす表面「微小孔」の影響【Powered by NICT】

Effects of surface “micro-holes” on the flashover properties of a disk-type ceramic-vacuum insulator

著者 (4件)： Sun Xiao-Liang (College of Opto-electric Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, PR China) ,  Zhong Hui-Huang (College of Opto-electric Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, PR China) ,  Xun Tao (College of Opto-electric Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, PR China) ,  Zhang Jun (College of Opto-electric Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, PR China)
資料名： Vacuum  (Vacuum)
巻： 141  ページ： 124-129  発行年： 2017年 
JST資料番号： E0347A  ISSN： 0042-207X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高パルス電圧下で動作する大きなディスク型アルミナセラミック真空絶縁体のフラッシュオーバ特性を向上させるための表面「穴」を創造する提案した表面処理法。この方法は残留表面フラッシュオーバトレースを除去し,絶縁耐力を回復する。構造最適化セラミック真空絶縁体は,この方法で処理し,高電圧パルス変調器(600 kV, 100 ns)を用いて試験した。実験結果は,この処理が絶縁信頼性を大きく改善できることを示した。走査電子顕微鏡(SEM)およびレーザ走査共焦点顕微鏡(LSCM)をフラッシュオーバ特性に及ぼす表面微細孔の影響を調べるために適用した。微小孔の幅(W)と深さ(D)は,フラッシュオーバー特性に大きく影響することが分かった。D/W比はこの改善の機構を説明するために導入した。比は1.2と2.0の間であったとき,表面微小穴は絶縁耐力に最大の有益な効果を有していた。フラッシュオーバ特性に及ぼす表面の効果「穴」を説明する機構を提案した。VSim PICコードのシミュレーション結果は,著者らの観測と説明を裏付けた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *フラッシュオーバ ,  絶縁耐力 ,  *円板 ,  信頼性 ,  細孔 ,  構造最適化 ,  *セラミック ,  走査電子顕微鏡 ,  シミュレーション ,  *絶縁体 ,  共焦点顕微鏡 ,  表面処理
準シソーラス用語： レーザ走査 ,  アルミナセラミック ,  パルス電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 表面微細孔 ,  セラミック絶縁体 ,  表面フラッシュオーバ ,  真空放電

分類 (4件)： 金属の機械的性質  (BL01022T) ,  酸化物薄膜  (BK14050P) ,  電極過程  (CB07040U) ,  金属材料へのセラミック被覆  (YC02050V)

タイトルに関連する用語 (6件)： ディスク型 ,  セラミック ,  真空 ,  絶縁体 ,  フラッシュオーバ ,  微小孔