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J-GLOBAL ID：201702249359201204   整理番号：17A0373058

Cdドープした四面銅鉱の熱電特性:Cu_12 xCd_xSb_4S_13【Powered by NICT】

Thermoelectric properties of Cd doped tetrahedrite: Cu_12-xCd_xSb₄S₁₃

著者 (9件)： Prem Kumar D.S. (Research Institute, Department of Physics, SRM University, Kattankulathur, 603203, India) ,  Chetty Raju (Thermoelectric Materials and Devices Laboratory, Department of Physics, Indian Institute of Science, Bangalore, 560012, India) ,  Rogl Peter (Institute of Physical Chemistry, University of Vienna, Waehringerstrasse 42, A-1090, Wien, Austria) ,  Rogl Peter (Christian Doppler Laboratory for Thermoelectricity, Vienna University of Technology, Vienna, A-1090, Austria) ,  Rogl Gerda (Institute of Physical Chemistry, University of Vienna, Waehringerstrasse 42, A-1090, Wien, Austria) ,  Rogl Gerda (Christian Doppler Laboratory for Thermoelectricity, Vienna University of Technology, Vienna, A-1090, Austria) ,  Bauer Ernst (Christian Doppler Laboratory for Thermoelectricity, Vienna University of Technology, Vienna, A-1090, Austria) ,  Malar P. (Research Institute, Department of Physics, SRM University, Kattankulathur, 603203, India) ,  Mallik Ramesh Chandra (Thermoelectric Materials and Devices Laboratory, Department of Physics, Indian Institute of Science, Bangalore, 560012, India)
資料名： Intermetallics  (Intermetallics)
巻： 78  ページ： 21-29  発行年： 2016年 
JST資料番号： W0672A  ISSN： 0966-9795  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 合成四面銅鉱Cu_12 xCd_xSb_4S_13(x=0~0,0.25,0.5,0.75、1、1.25および1.5)の熱電特性に及ぼすCdドーピングの影響を調べた。粉末X線回折と電子プローブマイクロ分析は微量不純物相の主相として四面銅鉱の存在を確認した。Cuに及ぼすCd置換の影響はドーピング量に伴う電気抵抗率とSeebeck係数の系統的増加によって確認された。力率は電気抵抗率の有意な増加により主に影響されたドーピング量とともに減少した。全熱伝導度は623Kで試料0.75の0と0.71 0.3W/m-K試料1.32 0.3W/m-Kから減少することが分ったが 1の急激な増加を示し, 1.25および 1.5とその後の試料では減少した。力率と熱伝導率の結合した結果は,熱電性能指数,Cu_11 0.25Cd_0 0.75Sb_4S_13の623KでzT=0.9に導いた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 熱伝導率 ,  電子プローブ ,  X線 ,  電気抵抗率 ,  微量分析 ,  *カドミウム ,  不純物 ,  *ドーピング ,  力率 ,  *銅 ,  Seebeck係数 ,  粉末X線回折 ,  *安四面銅鉱
準シソーラス用語： 熱電性能指数 ,  *熱電特性 ,  *四面銅鉱 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 機能性合金 ,  熱電特性 ,  反応合成 ,  回折(X線)

分類 (2件)： 電気的性質  (WB02010Y) ,  熱電デバイス  (NC03090J)

タイトルに関連する用語 (4件)： Cd ,  ドープ ,  四面銅鉱 ,  熱電特性