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J-GLOBAL ID：201702250263880856   整理番号：17A1643507

パワーエレクトロニクスデバイスの周波数結合アドミッタンスの測定について【Powered by NICT】

On the Measurement of Power Electronic Devices’ Frequency Coupling Admittance

著者 (6件)： Gallo D. (University of Campania “Luigi Vanvitelli”, Aversa (CE), Italy) ,  Landi C. (University of Campania “Luigi Vanvitelli”, Aversa (CE), Italy) ,  Langella R. (University of Campania “Luigi Vanvitelli”, Aversa (CE), Italy) ,  Luiso M. (University of Campania “Luigi Vanvitelli”, Aversa (CE), Italy) ,  Testa A. (University of Campania “Luigi Vanvitelli”, Aversa (CE), Italy) ,  Watson N. (University of Canterbury, Christchurch, New Zealand)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： AMPS  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高調波放射研究のためのモデルパワーエレクトロニクスデバイスに関連した文献中に存在する種々の方法の中で,周波数結合行列の実験的評価に基づく周波数領域モデルを考察した。本論文では,パワーエレクトロニクスデバイスの周波数結合アドミタンス行列の評価に関する実験の精度の影響を解析した。周波数結合アドミタンス行列の直接測定のためのいくつかの実験試験を実行することを目的とした自動試験システムを設計し,実装し,その計測工学的キャラクタリゼーションを行った。実験の結果は,このような種類の実験活動の中に直面しなければならない主な測定問題を記述した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 計測工学 ,  *周波数 ,  キャラクタリゼーション ,  周波数領域 ,  高調波 ,  自動試験 ,  Y行列
準シソーラス用語： 直接測定 ,  結合行列 ,  *アドミタンス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  数値計算  (JE02000J)

タイトルに関連する用語 (1件)： アドミッタンス