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J-GLOBAL ID：201702250543628634   整理番号：17A1512844

電磁気を用いた非破壊検査の高度化 面状探傷を指向した渦電流上置プローブの基礎検討について

著者 (4件)： 小山潔 (日本大) ,  本宮寛憲 (日本大) ,  星川洋 (日本大) ,  澤大輔 (日本大)
資料名： 非破壊検査  (Journal of JSNDI)
巻： 66  号： 11  ページ： 518-522  発行年： 2017年11月01日 
JST資料番号： G0027A  ISSN： 0367-5866  CODEN： HIHKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 提案されるマルチ励磁式の面状探傷上置プローブは,m個の円形励磁コイルおよび1つの矩形横置励磁コイル(励磁コイル数はm+1=n個)と1つの矩形縦置検出コイルから構成される。検出コイル巻線方向と走査方向とを垂直にしてプローブを配置した場合に,円形励磁コイルで縦きずを,矩形横置励磁コイルで横きずを検出するものである。提案する面状探傷用渦電流上置プローブの基礎的なきず検出特性を紹介した。これは一度の走査で面状に探傷することを目的とし,かつ渦電流探傷器へのコイル数の削減も指向した。

シソーラス用語： 電磁気 ,  *渦電流検査 ,  プローブ ,  外傷 ,  非破壊検査 ,  故障検出 ,  電磁装置 ,  励磁
準シソーラス用語： *渦電流探傷試験

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (7件)： 電磁気 ,  非破壊検査 ,  高度化 ,  傷 ,  渦電流 ,  プローブ ,  基礎