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J-GLOBAL ID：201702250556330172   整理番号：17A1761649

強くスパイクされた固有値モデルの下の高次,低サンプルサイズのデータに対する2サンプルテスト

A two-sample test for high-dimension, low-sample-size data under the strongly spiked eigenvalue model

著者 (1件)： ISHII Aki (Tokyo Univ. Sci., Chiba, JPN)
資料名： Hiroshima Mathematical Journal  (Hiroshima Mathematical Journal)
巻： 47  号： 3  ページ： 273-288  発行年： 2017年11月 
JST資料番号： S0562B  ISSN： 0018-2079  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高次データの共通点はデータの次元が高いということである,しか...

シソーラス用語： *データ ,...
準シソーラス用語： *サンプルサイズ ,...

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分類 (2件)： 解析学  (AB05000M) ,  分子・遺伝情報処理  (JE15040B)

タイトルに関連する用語 (6件)： スパイク ,  固有値 ,  モデル ,  サンプルサイズ ,  サンプル ,  テスト