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J-GLOBAL ID：201702250792176947   整理番号：17A1480454

ZundelとEigen溶媒和配置として観測された浮遊水橋におけるプロトン電荷欠陥構造【Powered by NICT】

Protonic charge defect structures in floating water bridges observed as Zundel and Eigen solvation arrangements

著者 (4件)： Teschke Omar (Laboratorio de Nanoestruturas e Interfaces, Instituto de Fisica, UNICAMP, 13083-859 Campinas, SP, Brazil) ,  de Castro Jose Roberto (Laboratorio de Nanoestruturas e Interfaces, Instituto de Fisica, UNICAMP, 13083-859 Campinas, SP, Brazil) ,  Valente Filho Juracyr Ferraz (Laboratorio de Nanoestruturas e Interfaces, Instituto de Fisica, UNICAMP, 13083-859 Campinas, SP, Brazil) ,  Soares David Mendez (Laboratorio de Nanoestruturas e Interfaces, Instituto de Fisica, UNICAMP, 13083-859 Campinas, SP, Brazil)
資料名： Chemical Physics Letters  (Chemical Physics Letters)
巻： 685  ページ： 239-243  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0824A  ISSN： 0009-2614  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プロトン配置を共焦点Raman顕微鏡を用いて水架橋構造で検出され,スペクトルは二形成された構造を示した。測定したRamanスペクトルは橋構造に印加した電圧,これら二種の割合を変えたを用いて改質した。最初に,6.3kV印加電圧では,オーミック寄与以上ブリッジ電流の測定可能な増加があり,この新しい注入種の観測されたRamanスペクトルはZundelプロトン配置に対して計算したスペクトルと一致した。電圧をさらに増加すると固有プロトン溶媒和種からの寄与は測定したスペクトルに追加した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *陽子 ,  スペクトル ,  電流 ,  Ramanスペクトル ,  *溶媒和 ,  電圧 ,  *浮遊
準シソーラス用語： 印加電圧 ,  架橋構造 ,  共焦点Raman顕微鏡 ,  *荷電欠陥 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： プロトン電荷欠陥 ,  プロトン溶媒和配置 ,  水架橋におけるプロトン溶媒和 ,  固有とZundelプロトン配置

分類 (1件)： 無機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08063C)

タイトルに関連する用語 (7件)： 溶媒和 ,  観測 ,  浮遊 ,  水 ,  プロトン ,  電荷 ,  欠陥構造