Kwon Ji-Wook について
Department of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, South Korea について
Jin Dong-Hwan について
Department of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, South Korea について
Kim Hyeon-June について
Department of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, South Korea について
Hwang Sun-Il について
Department of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, South Korea について
Shin Min-Chul について
, SK Hynix, Icheon, South Korea について
Cheon Jun-Ho について
, SK Hynix, Icheon, South Korea について
Ryu Seung-Tak について
Department of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, South Korea について
IEEE Sensors Journal について
電気抵抗 について
電気測定 について
AD変換器 について
対数 について
不揮発性メモリ について
相転移 について
データ読取 について
消費電力 について
時間 について
測定精度 について
標準 について
信号発生器 について
CMOS構造 について
半導体プロセス について
多値論理 について
抵抗ディジタル変換器 について
時間ディジタル変換器 について
相変化メモリ について
低電力 について
整定時間 について
時間基準 について
R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器 について
AD・DA変換回路 について
半導体集積回路 について
PCM について
読み出し について
低電力 について
TDC について
対数 について
センサー について