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J-GLOBAL ID：201702251224762850   整理番号：17A1700679

テラヘルツ波を用いた新しい非破壊検査技術 安全に誰でも目に見えない材料の劣化や欠陥を非破壊に検査できる新しい技術の紹介

著者 (1件)： 小山裕 (東北大)
資料名： 検査技術  (Inspection Engineering (Tokyo))
巻： 22  号： 12  ページ： 6-14  発行年： 2017年12月01日 
JST資料番号： L3524A  ISSN： 1342-9825  CODEN： KGEIAS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・テラヘルツ(THz)波は波長帯域的には30μm~3mmでミリ波と赤外線との中間帯域。
・この帯域をカバーする半導体素子(光源とセンサ)の出現により画像処理(可視化)技術と併せて「非破壊/非接触検査技術」への応用を検討。
・応用検討事例としてコンクリート斜張橋を構成する橋梁ケーブルや屋外配線用被覆銅線(プラスチック製保護外被覆付き)の健全性や劣化異常点検への適用例を説明。
・また可視化画像化技術に透過/反射分光技術を加えて溶融亜鉛メッキ鋼板上に生成する腐食生成物の解析技術としての可能性を検討。

シソーラス用語： *非破壊検査 ,  電磁気検査 ,  テラヘルツ波 ,  *非破壊分析 ,  可視化 ,  *画像処理 ,  画像分析 ,  分光分析 ,  *異常診断 ,  画像診断 ,  内部欠陥

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： テラヘルツ波 ,  非破壊検査 ,  欠陥 ,  検査