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J-GLOBAL ID:201702251434493440   整理番号:17A0048553

180nm CMOSプロセスにおける14ビット250MS /秒IFサンプリング・パイプラインADC

A 14-bit 250 MS/s IF Sampling Pipelined ADC in 180 nm CMOS Process
著者 (7件):
資料名:
巻: 63  号:ページ: 1381-1392  発行年: 2016年 
JST資料番号: C0226B  ISSN: 1549-8328  CODEN: ITCSCH  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本稿では,直線性,動作速度,電力効率を最適化することを目的とした180nm CMOSプロセスで製造された14ビット250MS / s ADCを紹介する。実装されたADCは,寄生的に最適化されたブートストラップスイッチを備えた改良されたSHAを採用し,広い入力周波数範囲で高いサンプリングリニアリティを達成する。また,コンデンサのミスマッチや残余アンプのゲイン誤差を補正する専用のフォアグラウンド較正についても検討し,ここでは,アナログフロントエンドにはほとんど費用をかけずに新しい構成方式が開発されている。さらに,高速リファレンスバッファおよび高速コンパレータに関連する部分的にオーバーラップしないクロック方式が,残留セトリング時間を最大化するために提案されている。実装されたADCは,250MS/sのサンプリングレートで異なる入力周波数で測定され,1.8V電源にて300mWを消費する。 30MHz入力の場合,ADCの測定されたSFDRとSNDRは94.7dBと68.5dBであり,最大400MHzでは84.3dBと65.4dBを超えることがある。ナイキスト周波数でのWalden FOMは0.57 pJ/stepだが,校正後の測定DNLとINLはそれぞれ0.15 LSBと1.00 LSBに減少する。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST
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分類 (2件):
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AD・DA変換回路  ,  半導体集積回路 
タイトルに関連する用語 (4件):
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