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J-GLOBAL ID：201702251803544678   整理番号：17A0749707

シンクロトロン小角X線散乱の高分子応用における最近の進歩【Powered by NICT】

Recent developments in polymer applications of synchrotron small-angle X-ray scattering

著者 (1件)： Sakurai Shinichi (Department of Biobased Materials Science, Kyoto Institute of Technology, Matsugasaki, Sakyo-ku, Kyoto, 606-8585, Japan)
資料名： Polymer International  (Polymer International)
巻： 66  号： 2  ページ： 237-249  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0918A  ISSN： 0959-8103  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シンクロトロン放射施設を確立し,学術的,産業的観点からだけでなく高分子のコミュニティにおける非常に身近なものとなった。広角X線散乱,応力-歪,光散乱などの他の技法と小角X線散乱(SAXS)の同時測定を行うために現在,稀ではない。新技術も確立されており,近年,より身近なものとなった。本総説では,シンクロトロンSAXSの高分子応用における最近の発展を要約した。データ分析における機器開発と進歩は以下の側面:超小角X線散乱,異常小角X線散乱,X線光子相関分光法,新しいタイプの同時測定,すれすれ入射SAXS,ナノ粒子分析の新しい動向と工業的応用からレビューした。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： コミュニティ ,  同時計測 ,  *シンクロトロン ,  文献展望 ,  *高分子 ,  すれすれ入射 ,  データ解析 ,  ナノ粒子 ,  光散乱
準シソーラス用語： 超小角X線散乱 ,  WAXS ,  シンクロトロン放射施設 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： シンクロトロンX線 ,  小角X線散乱 ,  超小角X線散乱 ,  異常SAXS ,  X線光子相関分光法 ,  すれすれ入射SAXS

分類 (2件)： 高分子溶液の物理的性質  (CG02013S) ,  物理的性質一般  (YH02021U)

タイトルに関連する用語 (4件)： シンクロトロン ,  小角X線散乱 ,  高分子 ,  応用