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J-GLOBAL ID:201702252515991364   整理番号:17A0443956

バンドギャップ調整可能な半導性非晶質Cd Ga-O薄膜のキャリア輸送特性に及ぼす真空アニーリングの効果【Powered by NICT】

Effects of vacuum annealing on carrier transport properties of band gap-tunable semiconducting amorphous Cd-Ga-O thin films
著者 (4件):
資料名:
巻: 624  ページ: 29-33  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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調整可能なバンドギャップを有する非晶質酸化物半導体Cd Ga O系に及ぼす真空焼なましの影響を調べた。がCd濃度約70%の膜のXRDパターンにおける非晶質ハローピークは温度≧200°Cでのアニーリング後,尖鋭化を開始した。対照的に,Cd含有量~50%と~20%の膜は700°Cまでのアニーリング温度で結晶化しなかった。~70%と~50%膜のキャリア濃度とH all移動度は400°Cと500°Cでアニールすることによって最大化され,それぞれ,蒸着したままの膜の特性,堆積チャンバの残留水蒸気圧のような蒸着条件の意図しない変化のために変化させた,とは無関係であった。~20%膜の初期電気伝導率は<10~ 8~11s cm~ 1に広く,500°Cでのアニーリングは絶縁堆積したままの膜からの導電性膜を得るために必要であった。~70%と~50%膜のCd含有量の膜で最大H all移動度は≧10cm~2V~ 1s~ 1であったと~20%Cd含有量の膜では≧3cm~2V~ 1s~ 1であった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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酸化物薄膜  ,  半導体薄膜 

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