Division of Nano Metrology and Materials Measurement,National Institute of Metrology について
Ren Lingling について
Division of Nano Metrology and Materials Measurement,National Institute of Metrology について
Gao Sitian について
Division of Nano Metrology and Materials Measurement,National Institute of Metrology について
Zhou Liqi について
Division of Nano Metrology and Materials Measurement,National Institute of Metrology について
Tao Xingfu について
Division of Nano Metrology and Materials Measurement,National Institute of Metrology について
Dianzi Xianwei Xuebao について
混合層 について
スパッタリング について
ニオブ について
界面 について
ニッケル について
薄膜 について
層状組織 について
画像処理 について
ケイ素 について
微細構造 について
構造欠陥 について
シリコンウエハ について
HRTEM について
幾何学的位相 について
high-resolution imaging について
geometric phase analysis について
Nb thin film について
Si について
mixed layer について
strain について
界面化学一般 について
固-液界面 について
幾何学的位相 について
解析 について
Nb について
Si について
界面 について
歪 について
研究 について