Song Haomin について
Department of Electrical Engineering, The State University of New York at Buffalo, Buffalo, NY, 14260, USA について
Zhang Nan について
Department of Electrical Engineering, The State University of New York at Buffalo, Buffalo, NY, 14260, USA について
Duan Jiyuan について
Technical Center for Industrial Product and Raw Material Inspection and Testing, Entry-Exit Inspection and Quarantine Bureau, Shanghai, 200135, China について
Liu Zhejun について
Material Science Department, Fudan University, Shanghai, 200433, China について
Gao Jun について
Material Science Department, Fudan University, Shanghai, 200433, China について
Singer Matthew H. について
Department of Electrical Engineering, The State University of New York at Buffalo, Buffalo, NY, 14260, USA について
Ji Dengxin について
Department of Electrical Engineering, The State University of New York at Buffalo, Buffalo, NY, 14260, USA について
Cheney Alec R. について
Department of Electrical Engineering, The State University of New York at Buffalo, Buffalo, NY, 14260, USA について
Zeng Xie について
Department of Electrical Engineering, The State University of New York at Buffalo, Buffalo, NY, 14260, USA について
Chen Borui について
Department of Electrical Engineering, The State University of New York at Buffalo, Buffalo, NY, 14260, USA について
Jiang Suhua について
Material Science Department, Fudan University, Shanghai, 200433, China について
Gan Qiaoqiang について
Department of Electrical Engineering, The State University of New York at Buffalo, Buffalo, NY, 14260, USA について
Advanced Optical Materials について
品質 について
超薄膜 について
薄膜 について
多重化 について
相転移 について
光学定数 について
光吸収 について
ロバスト性 について
波長 について
吸収バンド について
自己組織化 について
位相シフト について
偏光 について
光学系 について
金属ナノ粒子 について
偏光解析 について
ナノスケールセンシング について
nanostructures について
光相 について
トポロジカルフォトニクス について
偏光測定と偏光計 について
偏光,複屈折,光学回転 について
固体デバイス製造技術一般 について
多重 について
波長 について
偏光 について
暗さ について